描述:本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測(cè)定其離面位移的新型,的測(cè)試。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作,實(shí)時(shí)顯示場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn),故而應(yīng)用廣泛,如物體形變測(cè)量、無損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-04-13訪問量
1818我們相信好的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證!
致力于成為更好的解決方案供應(yīng)商!
品牌 | 恒奧德 |
---|
電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)裝 干涉實(shí)驗(yàn)裝置 型號(hào):TP-WSG-1