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型號：GSZ-ST-20

方塊電阻測試儀 電阻測試儀 測試儀

描述：方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

  • 更新時間

    2024-04-12

  • 訪問量

    1407
詳細介紹
品牌恒奧德

方塊電阻測試儀  電阻測試儀  測試儀            型號：GSZ-ST-20

方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，門測量半導體薄層電阻（面電阻）的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 點：
 
1
 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要分，測量準確穩(wěn)定
2
 低耗
3
 采用單個電池供電，帶電池欠壓示
4
 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5
 制之手握式探筆，形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6
 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 標：
 
測量范圍
基本量程：方塊電阻10.0-199.9（Ω/口）
擴展量程：方塊電阻100-1999（Ω/口）
測量不確定度
≤5%
探針規(guī)格
 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ
恒源
 測量過程誤差：≤±0.8%
電源
 9V疊層電池1節(jié)A

 

 

 

 

 

 

 

2.

產(chǎn)品名稱：錐入度儀
產(chǎn)品型號：HA-WZR

錐入度儀 型號：HA-WZR

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