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描述：本儀器是種小型測量儀，它能快速、無損傷、地行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測域。由于該儀器體積小、測頭與儀器體化，別適用于程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法
廠商性質(zhì)
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2024-04-11訪問量
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 恒奧德 |
|---|
涂層測厚儀 測厚儀 型號：JHW2-TT220
產(chǎn)品概述：
本儀器是種小型測量儀，它能快速、無損傷、地行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量。可廣泛用于制業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測域。由于該儀器體積小、測頭與儀器體化，別適用于程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
能點(diǎn)：
z 本儀器采用了磁性和渦兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）
z 可行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差行修正；
*有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
*有兩種作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
*有刪除能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便行新的測量；
z 設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
*有米、英制轉(zhuǎn)換能；
*有打印能，可打印測量值、統(tǒng)計值；
*有欠壓示能；
z操作過程有蜂鳴聲提示；
*有錯誤提示能；
*有自動關(guān)機(jī)能
參數(shù)：
測頭類型 | F | |
測量原理 | 磁感應(yīng) | |
測量范圍 | 0-1250um | |
低限分辨力 | 1µm（10um以下為0.1um） | |
探頭連接方式 | 體化 | |
示值誤差 | 點(diǎn)校準(zhǔn)（um） | ±[3%H+1] |
兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um） | ±[（1～3）%H+1] | |
測量條件 | zui小曲率半徑（mm） | 凸 1.5 凹9 |
基體zui小面積的直徑（mm） | ф7 | |
zui小臨界厚度（mm） | 0.5 | |
溫濕度 | 0~40℃ | |
統(tǒng)計能 | 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、 | |
作方式 | 直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl） | |
測量方式 | 連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE） | |
上下限設(shè)置 | 無 | |
存儲能力 | 15 個測量值 | |
打印/連接計算機(jī) | 可選配打印機(jī)/不能連接電腦 | |
關(guān)機(jī)方式 | 自動 | |
電源 | 二節(jié)3.6V鎳鎘電池 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
重量 | 150g | |
基本配置：主機(jī)z標(biāo)準(zhǔn)片套（50um 100um 200um 500um 1000um） z鐵基體 z充電器
可選附件：JHW2-TA230打印機(jī)
2.
 | 產(chǎn)品名稱：*胺氮快速測定儀/*胺氮快速檢測儀 產(chǎn)品型號：HAD-110SK |
*胺氮快速測定儀/*胺氮快速檢測儀 型號：HAD-110SK
應(yīng)用域
HAD-GDYQ-110SK*胺氮快速測定儀是種新的現(xiàn)場*胺氮定量測定儀器，廣泛應(yīng)用于各類火腿、臘肉等產(chǎn)品的現(xiàn)場測定。
儀器點(diǎn)：
* 可現(xiàn)場定量測定被測樣品中的*胺氮
* 化學(xué)試劑盒顯色，樣品和試劑用量少，可減少并防止二次污染
* 主機(jī)體積小，重量輕，操作簡單，攜帶方便
標(biāo)：
* 測定下限：
2.0mg/100g
* 測定范圍：
0.0-20.0mg/100g
* 測量度：5%
儀器配置
* 主機(jī)1臺
* 樣品前處理器具1套
* 試劑套（50次）
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