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手持式數(shù)字式四探針測試儀

更新時間：2013-05-03  |  點(diǎn)擊率：667

手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀　型號：HADM-2

HADM-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

      手持式數(shù)字式四探針測試儀儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。
主機(jī)主要由數(shù)控恒源，分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
      探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
     
         詳見  表2《四探針探頭型號規(guī)格征選型參照表》入
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
    電    阻：     0.010 ～ 9999Ω,    分辨率0.001 ～ 1 Ω
    電 阻 率：     0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
    方塊電阻：     0.050～ 2000Ω/□   分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定
   直    徑：HAD/SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。
   HAD/SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
   長（）度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
   測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等

 

 

4） 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5） 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈   重：≤0.5kg

北京恒奧德儀器儀表有限公司

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