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介電常數(shù)及介質損耗測試儀夾具作性

更新時間:2018-05-22  |  點擊率:952

HAD-JDC夾具作性
1.平板電容器:
片尺寸:  Φ50mm/Φ38mm可選
片間距可調范圍: ≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值:≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:  0.001mm

 HAD-JDC型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為新代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前內(nèi)的160MHz.HAD-JDC介電常數(shù)測試儀采用了多項。
雙掃描 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。
自動化測量 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的葆真,頻率的、幅度的穩(wěn)定。
計算機自動修正和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。